Die 3. Dimension für Ihr Mikroskop

  9. März 2010 – Klassische Lichtmikroskope lassen sich zu einem 3-D-Oberflächenmessgerät erweitern und damit in ihrer Nutzbarkeit erheblich aufwerten. Mit dem Messprinzip der Weißlichtinterferometrie sind 3-D-Daten flächig und mit hoher Präzision über den gesamten Betrachtungsbereich des Mikroskops ermittelbar. Auf dieser Grundlage sind verschiedene Arten von 3-D-Analysen möglich.

Die GBS mbH bietet dazu unter der Bezeichnung smartWLI-microscope preislich attraktive Komplettlösungen zum Nachrüsten vorhandener Mikroskope an. Mit dem Spezial-Messmodul können hochpräzise 3D-Messungen von Oberflächen mit Nanometerauflösung vorgenommen werden. Zur Auswertung der 3-D-Messdaten stehen vielfältige Möglichkeiten wie die Rauheitsanalyse nach DIN/ISO, Stufenhöhenbestimmung nach ISO, Partikelanalyse, Protokollierung zur Verfügung. Das angebotene Upgrademodul mit zugehöriger Software und dem notwendigen qualifizierten Applikations-Support und Teach-in Service ist für Unternehmen eine hochwirtschaftliche und attraktive Investition in die eigene Gerätebasis, weil vorhandene Mikroskope aller bekannten Hersteller (ZEISS, LEICA, NIKON, OLYMPUS) für dieses Upgrade genutzt werden können.

Die Anwendungsfelder von modernen ultrapäzisen Highend-3D-Messungen bis in den unteren Nanometerbereich liegen vor allem in der Qualitätssicherung und der Forschung. Typische Einsatzfelder sind die Charakterisierung von Oberflächen verschiedener Rauheit (Waferstrukturen, Spiegel, Glas, Metalle), die Bestimmung von Stufenhöhen und die präzise Messung von gekrümmten Oberflächen, wie z.B. Mikrolinsen, sowie in der Analyse-, Diagnose- und Monitoring-Aufgaben in der fortgeschrittenen Molekular/Zellular-Biologie/Medizin.

Nähere Informationen finden Sie im Internet unter www.smartWLI.de

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