Olympus: LEXT OLS4000 – ein neues Instrument für die optische Messtechnik

Hamburg, 26 Mai 2009
Mit dem LEXT OLS4000 stellt Olympus das jüngste Mitglied der überaus erfolgreichen konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopserie LEXT vor. Zahlreiche neue Eigenschaften und verbesserte Funktionen zeichnen das Modell aus. Dazu gehören beispielsweise die Vermessung nahezu senkrechter Flankensteilheiten, ein größerer optischer Zoom und ein übersichtliches Bildschirmfenster für die Navigation. Mit speziellen Benutzeroberflächen für die wichtigsten Aufgaben – wie Bildaufnahme, Analyse und Berichterstellung – erleichtert die neue Software unterschiedlichsten Anwendern selbst die komplexesten Arbeitsabläufe. Neben diesen funktionellen Verbesserungen präsentiert sich das gesamte System zudem in einem schlankeren Design mit nur einem Steuergerät. Das LEXT OLS4000 meistert nicht nur die Herausforderungen in einem Messlabor, vielmehr ist es geradezu ein Wegbereiter für die optische Metrologie, das flexibelste Messsystem mit optischer Technologie.

Das LEXT OLS4000 von Olympus verfügt über einen größeren und schnelleren MEMS-Scannerspiegel sowie Zweifach-Pinhole-Technologie. Damit ist es das derzeit modernste konfokale Laser-Scanning-Mikroskop am Markt. Während der größere Spiegel für eine ausgezeichnete optische Qualität sorgt, wird die benötigte Zeit zur Erstellung des 3-D-Bildes einer Probe um die Hälfte reduziert. Der 405 nm-Laser und das Zweifach-Pinhole arbeiten simultan. Dadurch ist sichergestellt, dass das System die maximale Auflösung und Schärfe liefert. Gleichzeitig ermöglicht es die Messung von Flankensteilheiten von bis zu 85°, sodass sich selbst die komplexesten Oberflächentopologien aufnehmen und analysieren lassen. Aufgrund der neuartigen Linienabtastfunktion können mit dem LEXT optische Messungen der Oberflächenrauigkeit nach denselben internationalen Standards durchgeführt werden wie bei Systemen mit Auslegern. Darüber hinaus ist das LEXT führend in der Umsetzung der aktuellen 2-D-Oberflächenrauigkeits-Standards und setzt damit neue Präzisionsmaßstäbe in der Oberflächenanalyse.

Der fortschrittliche Z-Antrieb gestattet äußerst präzise und reproduzierbare 3-D-Messungen von Stufenhöhen mit einer Auflösung von unter einem Nanometer (1 nm). Der neue Tisch lässt überdies wesentlich präzisere Bewegungen zu. Dank der integrierten Schwingungsdämpfung wird die Messgenauigkeit durch Probenbewegungen und externe Vibrationen nicht beeinflusst.

Die komplett überarbeitete Software macht selbst komplexe optische Messverfahren sämtlichen Anwendern zugänglich. So wird zum Beispiel neben dem Hauptbild in einem kleinen Übersichtsfenster ein schwächeres Bild der gesamten Probe angezeigt, um die Navigation und Orientierung zu erleichtern. Wichtige Analysefunktionen lassen sich ganz leicht anwenden. Zum einen reduziert sich dadurch die Zahl der Bedienungsfehler, zum anderen werden so einheitliche Ergebnisse von Nutzer zu Nutzer erzielt. Die Berichterstellung ist gleichermaßen einfach, da der intuitive Berichtgenerator stets für eine bestmögliche Darstellung der Daten sorgt. Außerdem lässt sich jedem Anwender ein eigenes Login zuweisen, sodass die eigenen spezifischen Einstellungen, Dateien und Projekte sofort zugänglich sind. Arbeitsgruppen mit mehreren Anwendern können so ungehindert individuelle Einstellungen festlegen. Der erforderliche Datenschutz bleibt gewährleistet.

Die Leistung des LEXT OLS4000 von Olympus geht über die bisherigen Grenzen der optischen Mikroskopie weit hinaus und belegt, dass die optische Messtechnik über die erforderlichen Funktionen und die notwendige Flexibilität verfügt, um selbst vielbeschäftigten Laboren zu genügen.

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