Olympus:MX61/MX61L Der schnellste Weg zu guten Ergebnissen

MX61/MX61L − Aufrechte Inspektionsmikroskope
Olympus bietet mit seiner langjährigen Erfahrung in Industrie und Materialwissenschaft viele festumrissene Lösungen, um die Prüfung mikroelektronischer Bauelementen einfacher, schneller und effizienter zu gestalten. Die Inspektionsmikroskope MX61 und MX61L wurden dabei speziell für die Halbleiterprüfung entwickelt. Beide Mikroskope sind extrem bedienerfreundlich und ermöglichen dem Anwender ein ermüdungsfreies Arbeiten in ergonomisch korrekter Haltung. Das Instrument passt sich perfekt dem jeweiligen Arbeitsumfeld an und ermöglicht somit eine Maximierung der Produktivität.

– Schnelle Inbetriebnahme
– Einfache Handhabung
– Zuverlässige Fehleranalysen
– Nachträglich ausbaufähig

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