SARFUS: Ein Zugang zur Nanowelt mit einem optischen Mikrosko

01.09.2010 – Nanolane [1] ist ein französisches Unternehmen, das optische Lösungen im Nanometer-Maßstab anbietet und vermarktet. Die Wissenschaftler von Nanolane haben ein neues innovatives Verfahren entwickelt -SARFUS -, um die Analysemöglichkeiten von optischen Mikroskopen zu erweitern. Dadurch werden Beobachtungen in der Nanowelt vereinfacht.

Das Verfahren beruht auf einem Grundprinzip der mikroskopischen Analyse: höhere Präzision durch Verstärkung des Kontrasts. Je schwächer der Vordergrund des zu analysierenden Objekts, desto höher ist die Auflösung. So haben die Wissenschaftler nicht reflektierende Schichten – SURFS – entwickelt, die den Kontrast um ein 160faches erhöhen.

Titel: Visualisierung verschiedener 3D-Nano-Objekte mit dem SARFUS-Verfahren. Credit: © Nanolane

Da es keine Laserstrahlabtastung gibt, kann man die Dynamik der nanometrischen Struktur in Echtzeit analysieren, wie z. B. die Kristallisation, die Benetzung, die chemische Oberflächenbehandlung, die Visualisierung von Bio-Chips, Kohlenstoffnanoröhrchen oder Langmuir-Blodgett-Schichten.

SARFUS wird des Weiteren von einer 3D-Bildverarbeitungssoftware ergänzt, die das optische Messen der Dicke oder des Rillenabstandes ermöglicht. Das Verfahren kann in vorhandene technologische Ausstattungen integriert werden, wie beispielsweise in die Rasterkraftmikroskopie, Profilometrie, Ellipsometrie, Raman-Faserlaser, Photoelektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie.

Eine Präsentation des SARFUS-Verfahrens, der SURFS-Schichten und der 3D-Bildverarbeitungssoftware steht unter folgendem Link zur Verfügung.

[1] Internetwebseite des Unternehmens Nanolane

Kontakt: Rémi Corso, Wissenschaftler, Nanolane – Parc des Sittelles, 72450 Montfort-le-Gesnois, France – Tel: +33 2 43 54 09 01, E-Mail: remi.corso.nano@eolane.com

Redakteur: Philippe Rault, philippe.rault@diplomatie.gouv.fr

Quelle: Abteilung für Wisschenschaft und Technologie, Französische Botschaft in Deutschland

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