Superauflösung mit Mikroskopsystemen von Carl Zeiss

Produktfamilie ELYRA vereint PAL-M- und SR-SIM-Technologie

CHICAGO/Illinois/USA, JENA, 17.10.2009. Carl Zeiss stellt mit ELYRA eine Produktfamilie vor, mit der erstmals die superauflösenden Mikroskopierverfahren PAL-M und SR-SIM umfassend genutzt und individuell kombiniert werden können. Damit werden Wissenschaftler in der biomedizinischen Forschung in die Lage versetzt, mit Fluoreszenzfarbstoffen markierte zelluläre Strukturen mit höchster räumlicher Auflösung, die unterhalb der klassischen mikroskopischen Beugungsgrenze, das heißt unter 200 Nanometern liegt, abzubilden. Das bietet neue Möglichkeiten für die Analyse der räumlichen Beziehung zwischen kleinsten Zellbausteinen bis hinunter zum einzelnen Molekül.

Zu der Systemfamilie gehören drei Mikroskop-Systeme: ELYRA S.1 ist das erste Mikroskop- system, mit dem die SR-SIM-Technologie auf Basis eines Standard-Mikroskopstativs genutzt werden kann. Mit ELYRA P.1 wird die PAL-M-Technologie erstmals kommerziell angeboten. Am Kombigerät ELYRA PS.1 sind beide Technologien zum ersten Mal am selben Stativ sowohl miteinander als auch mit einem Laser-Scanning-Mikroskop kombinierbar. Das bedeutet, dass ein Objekt nacheinander mit den drei Verfahren LSM, SR-SIM und PAL-M abgebildet werden kann.

ELYRA gibt dem Anwender die Möglichkeit, Superauflösungssysteme sowohl „schlüssel- fertig“ als auch modular zu erwerben. Er muss dafür nicht mehr in extrem spezialisierte und teure Einzelgeräte investieren. Die PAL-M-Technologie bietet die höchste derzeit erreichbare Auflösung, während sich die SR-SIM-Technologie durch ihre hohe Flexibilität bei der Wahl des Farbstoffes auszeichnet. Damit stehen beide Superauf- lösungsmethoden ohne die bisherige Einschränkung der Farbstoffauswahl oder Bedienfreundlichkeit zur Verfügung.

Diese herausragenden Eigenschaften wurden möglich durch die neuartige Laser-Weitfeldbe- leuchtung mit voll motorisierten Elementen für die Beleuchtung in Totaler Interner Reflexion (TIRF) und für die superauflösende strukturierte Beleuch- tung (SR-SIM). Die hochsensitive Detektion garantieren Electron multiplying-CCDs. Die intuitive Bedienung und die umfassende Daten- analyse wird mit der ZEN-Software von Carl Zeiss realisiert.

Die für High-End-Forschung optimale Kombina- tion bietet ELYRA in Verbindung mit dem Laser Scanning Mikroskop 780. PAL-M und SR-SIM sind aber auch mit dem Laser-Scanning-Mikroskop LSM 710 kombinierbar.

Gudrun Vogel
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